|
Обозначение стандарта: | ГОСТ 26239.7-84 |
|
Статус стандарта: | действующий |
|
Название рус.: | Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота |
| Название англ.: | Semiconductor silicon. Method of oxygen, carbon and nitrogen determination |
| |
| Дата введения в действие: | 01.01.1986 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает метод определения кислорода, углерода и азота в полупроводниковом кремнии с использованием активации ускоренными ионами и протонами |
| Список изменений: | №1 от --1991-01-01 (рег. --1990-06-26) «Срок действия продлен»
|
|
| c=&f2=3&f1=II001&l='>ОКС Общероссийский классификатор стандартовc=&f2=3&f1=II001029&l='>29 ЭЛЕКТРОТЕХНИКАc=&f2=3&f1=II001029045&l='>29.045 Полупроводниковые материалыc=&f2=3&f1=II002&l='>КГС Классификатор государственных стандартовc=&f2=3&f1=II002003&l='>В Металлы и металлические изделияc=&f2=3&f1=II002003005&l='>В5 Цветные металлы и их сплавы. Прокат из цветных металловc=&f2=3&f1=II002003005009&l='>В59 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
|
|